![]() 美国Hinds Instruments公司的PEM光电调制器可以控制光束的偏振状态的改变，调制速率为20~100kHz。光电调制器（PEM）的作用就像一个“动态的波片”，可以使快轴和慢轴之间产生一个周期变化的折射率差，从而控制透过光束的偏振进行周期性的变化。
型号示例：
型号：Exicor GEN5
延缓范围。：0.005至300纳米
延迟分辨率/可重复性1, 2:：0.001 nm / ± 0.008 nm
角度分辨率/重复性1:：0.01o / ± 0.05o
测量速率/时间3。：高达100 pps/取决于样品大小
尺寸（脚印）。：适用于2.2米x2.5米的工作区域
测量面积（毫米）。：1150 x 1350
光源波长4。：632.8 nm (HeNe 激光)
测量点直径5。：~1 mm原生（低至100 μm）
调制技术/频率。：Hinds Instruments PEMLabsTM 光电性调制器/50 kHz
解调分析技术。：Hinds Instruments SignalocTM 锁定放大器
测量单位。：纳米（延缓）， o（角度）
型号：Exicor GEN6
延缓范围。：0.005至300纳米
延迟分辨率/可重复性1, 2:：0.001 nm / ± 0.008 nm
角度分辨率/重复性1:：0.01o / ± 0.05o
测量速率/时间3。：高达100 pps/取决于样品大小
尺寸（脚印）。：适用于2.2米x2.5米的工作区域
测量面积（毫米）。：1550 x 1850
光源波长4。：632.8 nm (HeNe 激光)
测量点直径5。：~1 mm原生（低至100 μm）
调制技术/频率。：Hinds Instruments PEMLabsTM 光电性调制器/50 kHz
解调分析技术。：Hinds Instruments SignalocTM 锁定放大器
测量单位。：纳米（延缓）， o（角度）
型号：Exicor GEN9
延缓范围。：0.005至300纳米
延迟分辨率/可重复性1, 2:：0.001 nm / ± 0.008 nm
角度分辨率/重复性1:：0.01o / ± 0.05o
测量速率/时间3。：高达100 pps/取决于样品大小
尺寸（脚印）。：适用于2.2米x2.5米的工作区域
测量面积（毫米）。：2500 x 3000
光源波长4。：632.8 nm (HeNe 激光)
测量点直径5。：~1 mm原生（低至100 μm）
调制技术/频率。：Hinds Instruments PEMLabsTM 光电性调制器/50 kHz
解调分析技术。：Hinds Instruments SignalocTM 锁定放大器
测量单位。：纳米（延缓）， o（角度）
型号：EXICOR? HD SERIES
延缓范围。：0.005至300多纳米
延迟分辨率/可重复性1, 2:：0.001 nm / ± 0.015 nm
角度分辨率/重复性1:：0.01o / ± 0.07o
测量速率/时间3:：高达100 pps/取决于样品大小
光源波长4:：各种（632.8纳米标准）
测量点直径5:：在1毫米和3毫米之间（可低至<50微米）。
调制技术。：PEMLabsTM光电性调制器
测量单位。：纳米（延缓）， o（角度）
型号：EXICOR 500AT
延迟范围:：0.005至300+纳米
延迟分辨率/重复性1, 2：：0.001纳米/ 0.015纳米
角度分辨率/重复性一：：0.01 / 0.07
测量速率/时间3：：高达100 pps /取决于样品尺寸
系统尺寸(毫米):：1500高x 1500宽x 1500深
最大值样本大小(毫米):：500(宽)x 500(深)x 500(高)
光源波长四：：各种(632.8纳米标准)
测量点直径5：：1毫米到3毫米之间当地的(可以低至%3C50 m)
调制技术:：PEMLabs铥光电性调制器
测量单位:：nm(延迟)，(角度)
型号：EXICOR 300AT
延迟范围:：0.005至300+纳米
延迟分辨率/重复性1, 2：：0.001纳米/ 0.015纳米
角度分辨率/重复性一：：0.01 / 0.07
测量速率/时间3：：高达100 pps /取决于样品尺寸
系统尺寸(毫米):：1752高x 1270宽x 1193深
最大值样本大小(毫米):：300宽x 300深x 150高
光源波长四：：各种(632.8纳米标准)
测量点直径5：：1毫米到3毫米之间当地的(可以低至%3C50 m)
调制技术:：PEMLabs铥光电性调制器
测量单位:：nm(延迟)，(角度)
型号：EXICOR 250AT
延迟范围:：0.005至300+纳米
延迟分辨率/重复性1, 2：：0.001纳米/ 0.015纳米
角度分辨率/重复性一：：0.01 / 0.07
测量速率/时间3：：高达100 pps /取决于样品尺寸
系统尺寸(毫米):：413(宽)x 693(深)x 909(高)
最大值样本大小(毫米):：250(宽)x 250(深)x 150(高)
光源波长四：：各种(632.8纳米标准)
测量点直径5：：1毫米到3毫米之间当地的(可以低至%3C50 m)
调制技术:：PEMLabs铥光电性调制器
测量单位:：nm(延迟)，(角度)
型号：EXICOR 150AT
延迟范围:：0.005至300+纳米
延迟分辨率/重复性1, 2：：0.001纳米/ 0.015纳米
角度分辨率/重复性一：：0.01 / 0.07
测量速率/时间3：：高达100 pps /取决于样品尺寸
系统尺寸(毫米):：413(宽)x 693(深)x 909(高)
最大值样本大小(毫米):：150(宽)x 150(深)x 150(高)
光源波长四：：各种(632.8纳米标准)
测量点直径5：：1毫米到3毫米之间当地的(可以低至%3C50 m)
调制技术:：PEMLabs铥光电性调制器
测量单位:：nm(延迟)，(角度)
型号：Exicor? OIA
VIS 迟钝测量范围。：0至300+纳米
DUV 缓变测量范围。：0至90+nm
VIS 缓变分辨率/重复性。：0.001nm / ±0.03 (至3nm，其后为1%)
DUV 缓变分辨率/重复性。：0.001nm / ± 0.08 nm (至多4nm，其后2%)
迟钝精度。：优于预期的±0.2纳米
角度分辨率/重复性。：0.01° / <±0.5°
VIS 光源波长。：632.8纳米
DUV光源的波长。：193纳米
调制技术/频率。：PEMLabsTM光电性调制器/50/60 kHz
解调分析技术。：Hinds Instruments SignalocTM 锁定放大器
型号：Exicor? PV-Si
延缓范围：0.1至775纳米
延迟1：0.1 纳米
快速轴角：0.01o在>10纳米
测量：高达100 pps
光斑大小：~约2毫米的典型
样品尺寸：500 mm x 150 mm用于方形铸锭/500 mm x 210 mm用于原生铸锭
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